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国外标准中文版
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首页 > 电子元器件与信息技术 > 半导体光敏器件
   
  序号 标准号 标准名称 定价 订购  
  1 GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范 12元 订购  
  2 GB/T 18904.4-2002 半导体器件 第12-4部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的Pin-FET模块空白详细规范 12元 订购  
  3 GB/T 18904.3-2002 半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范 10元 订购  
  4 SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 询价 订购  
  5 SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法 询价 订购  
  6 SJ 2220-1982 半导体达林顿型光耦合器 询价 订购  
  7 SJ 50033/40-1994 GT11型半导体硅NPN光敏晶体管详细规范 询价 订购  
  8 SJ/T 11165-1998 用于光纤系统或子系统带尾纤/或不带尾纤的PIN-FET模块空白详细规范 询价 订购  
  9 SJ 20972-2007 电荷耦合成像组件通用规范 询价 订购  
  10 SJ 50033/114-1996 半导体光电子器件 GD3283Y型位敏探测器详细规范 询价 订购  
  11 SJ 50923/2-1995 G2-01B-M1型和G2-01B-Z1型半导体光敏器件金属外壳详细规范 询价 订购  
  12 SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法 询价 订购  
  13 SJ 2215.9-1982 半导体光耦合器(三极管)反向截止电流的测试方法 询价 订购  
  14 SJ 2219-1982 半导体光敏三极管型光耦合器 询价 订购  
  15 SJ 2218-1982 半导体光敏二极管型光耦合器 询价 订购  
  16 SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法 询价 订购  
  17 SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法 询价 订购  
  18 SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法 询价 订购  
  19 SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法 询价 订购  
  20 SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法 询价 订购  
  21 SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法 询价 订购  
  22 SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则 询价 订购  
  23 SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 询价 订购  
  24 SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法 询价 订购  
  25 SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法 询价 订购  
  26 SJ 2216-1982 硅光敏二极管 询价 订购  
  27 SJ 2217-1982 硅光敏三极管 询价 订购  
  28 SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法 询价 订购  
  29 SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法 询价 订购  
  30 SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则 询价 订购  
  共有37条记录 第12 跳页:1 2 末页