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电子元器件与信息技术
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基础标准与通用方法
序号
标准号
标准名称
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1
SJ/Z 9001.8-1987
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Z/AM:寒冷/低气压综合试验
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2
SJ/Z 9001.25-1987
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Ec:倾跌与翻倒(主要用于设备型试验样品)
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3
SJ/Z 9001.26-1987
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Ed:自由跌落
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4
SJ/Z 9001.27-1987
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Ga:稳态加速度
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5
SJ/Z 9001.28-1987
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Z/AFc:寒冷(低温)/正弦振动综合试验(热耗散和非热耗散试样)
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6
SJ/Z 9001.29-1987
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Z/BFc:干热(高温)/正弦振动综合试验(热耗散和非热耗散试样)
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7
SJ/Z 9001.30-1987
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Q:密封
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8
SJ/Z 9001.31-1987
基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验T:锡焊
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9
SJ 20370-1993
军用电子测试设备通用规范 设计和结构的基本要求
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10
SJ 20371-1993
军用电子测试设备通用规范 电源要求和试验方法
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11
GJB 360.7-1987
电子及电气元件试验方法 温度冲击试验
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161
条记录 第
6
页
,
共
6
页
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