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国外标准中文版
* 美国石油协会【API】
* 美国机械工程师协会【ASME】
* 美国实验与材料协会【ASTM】
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首页 > 冶金 > 元素半导体材料
   
  序号 标准号 标准名称 定价 订购  
  1 GB/T 12962-2005 硅单晶 询价 订购  
  2 GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 10元 订购  
  3 GB/T 19199-2003 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 8元 订购  
  4 GB/T 12964-2003 硅单晶抛光片 10元 订购  
  5 GB/T 12965-2005 硅单晶切割片和研磨片 询价 订购  
  6 GB/T 12963-1996 硅多晶 8元 订购  
  7 GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法 8元 订购  
  8 GB/T 2881-1991 工业硅技术条件 8元 订购  
  9 GB/T 5238-1995 锗单晶 8元 订购  
  10 GB/T 15713-1995 锗单晶片 8元 订购  
  11 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 10元 订购  
  12 GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法 10元 订购  
  13 GB/T 6619-1995 硅片弯曲度测试方法 8元 订购  
  14 GB/T 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法 8元 订购  
  15 GB/T 6621-1995 硅抛光片表面平整度测试方法 10元 订购  
  16 YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法 询价 订购  
  17 SJ 2572-1985 太阳电池用硅单晶棒、片 询价 订购  
  18 GJB 2918-1997 探测器级高阻区熔硅单晶片规范 询价 订购  
  19 SJ 20514-1995 微波功率晶体管用硅外延片规范 询价 订购  
  20 SJ 1549-1979 硅外延片(暂行) 询价 订购  
  21 SJ 3241-1989 砷化镓单晶棒及片 询价 订购  
  22 GJB 2919-1997 红外光学用锗规范 询价 订购  
  23 SJ/T 10625-1995 锗单晶体中间隙氧含量的红外吸收测定方法 询价 订购  
  24 SJ/T 10627-1995 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法 询价 订购  
  25 SJ 20750-1999 军用CMOS电路用抗辐射硅单晶片规范 询价 订购  
  26 SJ 20719-1998 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法 询价 订购  
  27 SJ 20718-1998 碲镉汞晶体中痕量元素的测定方法 询价 订购  
  28 SJ 20858-2002 碳化硅单晶材料电学参数测试方法 询价 订购  
  29 YS/T 557-2006 压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法 询价 订购  
  30 GJB 2917A-2004(K) 磷化铟单晶片规范 询价 订购  
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