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国外标准中文版
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* 美国机械工程师协会【ASME】
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首页 > 冶金 > 半金属
   
  序号 标准号 标准名称 定价 订购  
  1 GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法 8元 订购  
  2 GB/T 14141-1993 硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法 8元 订购  
  3 GB/T 11070-2006 还原锗锭 询价 订购  
  4 GB/T 11071-2006 区熔锗锭 询价 订购  
  5 GB/T 2881-2008 工业硅 10元 订购  
  6 GB/T 14139-1993 硅外延片 8元 订购  
  7 GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法 8元 订购  
  8 GB/T 11093-1989 液封直拉法砷化镓单晶及切割片 询价 订购  
  9 GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容--电压法 8元 订购  
  10 GB/T 11094-1989 水平法砷化镓单晶及切割片 10元 订购  
  11 GB/T 11072-1989 锑化铟多晶、单晶及切割片 10元 订购  
  12 YS/T 209-1994 硅材料原生缺陷图谱 询价 订购  
  13 YS/T 224-1994 铊 询价 订购  
  14 SJ 1551-1979 硅外延层电阻率测试方法(电容-电压法)(暂行) 询价 订购  
  15 YS/T 43-1992 高纯砷 询价 订购  
  16 YS/T 28-1992 硅片包装 询价 订购  
  17 SJ 1550-1979 硅外延片检测方法 询价 订购  
  18 SN/T 0550.1-1996 出口金属硅中铁、铝、钙的测定 分光光度法 询价 订购  
  19 SN/T 0550.2-1996 出口金属硅中铁、铝、钙的测定 容量法 询价 订购  
  20 YS/T 222-1996 碲锭 询价 订购  
  21 YS/T 543-2006 半导体键合铝-1%硅细丝 询价 订购  
  22 YS/T 223-2007 硒 10元 订购  
  23 YS/T 651-2007 二氧化硒 10元 订购  
  24 YS/T 26-1992 硅片边缘轮郭检验方法 询价 订购  
  25 YS/T 99-1997 三氧化二砷 询价 订购  
  26 SJ 20636-1997 IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法 询价 订购  
  27 YS 68-2004 砷 8元 订购  
  28 GJB 5346-2004(K) 高纯碲规范 询价 订购  
  29 GB/T 11071-1989 区熔锗锭 8元 订购  
  30 GB 11095-1989 霍尔器件和甘氏器件用砷化镓液相外延片 询价 订购  
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