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序号 |
标准号 |
标准名称 |
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1 |
GB/T 19921-2005 |
硅抛光片表面颗粒测试方法
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2 |
GB/T 19922-2005 |
硅片局部平整度非接触式标准测试方法
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3 |
GB/T 4699.2-1984 |
硅铬合金化学分析方法 碱熔-过硫酸铵氧化容量法测定铬量
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4 |
GB/T 4060-2007 |
硅多晶真空区熔基硼检验方法
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10元
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5 |
GB/T 11073-2007 |
硅片径向电阻率变化的测量方法
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16元
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6 |
GB/T 4059-2007 |
硅多晶气氛区熔基磷检验方法
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10元
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7 |
GB/T 4298-1984 |
半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
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8 |
GB/T 4699.1-1984 |
硅铬合金化学分析方法 重量法测定硅量
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9 |
YS/T 227.11-1994 |
碲中硅量的测定(正丁醇萃取硅钼蓝吸光光度法)
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10 |
SN/T 1039-2002 |
进出口吨包装碳化硅取样制样方法
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11 |
SJ 20865-2003 |
钼铼合金分析方法
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12 |
YS/T 226.13-1994 |
硒中碲量的测定(示波极谱法)
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13 |
YS/T 226.12-1994 |
硒中铅量的测定(示波极谱法)
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14 |
YS/T 226.14-1994 |
硒中碳量的测定(燃烧电导法)
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15 |
YS/T 226.15-1994 |
硒中硒量的测定(硫代硫酸钠容量法)
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16 |
YS/T 226.9-1994 |
硒中氯量的测定(硫氰酸汞吸光光度法)
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17 |
SJ 2594-1985 |
高纯四氯化硅中硼及金属杂质的化学光谱分析方法
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18 |
SJ 2595-1985 |
高纯四氯化硅中痕量磷的分光光度比色测试方法
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19 |
YS/T 226.7-1994 |
硒中硅量的测定(硅钼蓝吸光光度法)
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20 |
YS/T 226.10-1994 |
硒中硫量的测定(蒸馏还原吸光光度法)
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21 |
YS/T 226.6-1994 |
硒中砷量的测定(砷钼蓝吸光光度法)
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22 |
YS/T 34.2-1992 |
高纯砷化学分析方法 化学光谱法测定钴,锌,银,铜,钙,铝,镍,铬,铅,镁,铁量
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23 |
YS/T 226.2-1994 |
硒中锑量的测定(孔雀绿吸光光度法)
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24 |
YS/T 34.3-1992 |
高纯砷化学分析方法 极谱法测定硒量
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25 |
YS/T 226.3-1994 |
硒中锡量的测定(苯芴酮--溴代十六烷基三甲基胺吸光光度法)
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26 |
YS/T 226.4-1994 |
硒中铝量的测定(铬天青S-溴代十六烷基吡啶吸光光度法)
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27 |
YS/T 226.5-1994 |
硒中汞量的测定
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28 |
YS/T 34.4-1992 |
高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量
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29 |
YS/T 227.6-1994 |
碲中铜量的测定(新亚铜灵--三氯甲烷萃取吸光光度法)
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30 |
YS/T 226.11-1994 |
硒中镁、铜、铁、镍量的测定(原子吸收分光光度法)
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