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【GB/T 14115-1993】 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
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| 标准号： |
GB/T 14115-1993 |
该书一般在1-2天内发货 |
| 标准名称： |
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 |
| 纸书定价： |
12元
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标准简介：
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
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| 标准号： |
GB/T 14115-1993 |
| 标准中文名： |
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 |
| 标准英文名： |
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits |
| 替代标准： |
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| 开本： |
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| 页数： |
14 |
| 字数： |
24千字 |
| ICS： |
31.200 |
| 中标分类号： |
L56 |
| 采用标准： |
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| 归口单位： |
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| 起草单位： |
GB |
| 发布单位： |
国家技术监督局 |
| 发布日期： |
1993-1-21 |
| 实施日期： |
1993-8-1 |
| 作废日期： |
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标准个数： |
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| 作者： |
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| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 翻译： |
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| 目录： |
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| 是否有效： |
现行有效 |
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