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【GB/T 19403.1-2003】 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路)
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| 标准号： |
GB/T 19403.1-2003 |
该书一般在1-2天内发货 |
| 标准名称： |
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路) |
| 纸书定价： |
15元
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标准简介：
本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。
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| 标准号： |
GB/T 19403.1-2003 |
| 标准中文名： |
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路) |
| 标准英文名： |
Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits) |
| 替代标准： |
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| 开本： |
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| 页数： |
25 |
| 字数： |
45千字 |
| ICS： |
31.200 |
| 中标分类号： |
L56 |
| 采用标准： |
IEC 60748-11-1-1992,IDT |
| 归口单位： |
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| 起草单位： |
GB |
| 发布单位： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： |
03-11-24 |
| 实施日期： |
04-08-01 |
| 作废日期： |
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标准个数： |
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| 作者： |
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| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 翻译： |
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| 目录： |
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| 是否有效： |
现行有效 |
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