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【GB/T 4377-1996】 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
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| 标准号： |
GB/T 4377-1996 |
该书一般在1-2天内发货 |
| 标准名称： |
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
| 纸书定价： |
14元
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标准简介：
本标准规定了半导体集成电路电压调整器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。
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| 标准号： |
GB/T 4377-1996 |
| 标准中文名： |
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
| 标准英文名： |
Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage regulator |
| 替代标准： |
GB 4377-1984 |
| 开本： |
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| 页数： |
20 |
| 字数： |
37千字 |
| ICS： |
31.200 |
| 中标分类号： |
L56 |
| 采用标准： |
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| 归口单位： |
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| 起草单位： |
GB |
| 发布单位： |
国家技术监督局 |
| 发布日期： |
1996-7-9 |
| 实施日期： |
1997-1-1 |
| 作废日期： |
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标准个数： |
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| 作者： |
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| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 翻译： |
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| 目录： |
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| 是否有效： |
现行有效 |
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