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【SJ 2214.9-1982】 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
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| 标准号： |
SJ 2214.9-1982 |
该书一般在1-2天内发货 |
| 标准名称： |
半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 |
| 纸书定价： |
询价 |
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标准简介：
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| 标准号： |
SJ 2214.9-1982 |
| 标准中文名： |
半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法 |
| 标准英文名： |
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| 替代标准： |
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| 开本： |
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| 页数： |
1 |
| 字数： |
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| ICS： |
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| 中标分类号： |
L54 |
| 采用标准： |
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| 归口单位： |
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| 起草单位： |
SJ |
| 发布单位： |
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| 发布日期： |
1982 |
| 实施日期： |
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| 作废日期： |
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标准个数： |
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| 作者： |
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| 出版社： |
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| 翻译： |
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| 目录： |
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| 是否有效： |
现行有效 |
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立即订购 |
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