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【GB/T 15651.3-2003】 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
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| 标准号： |
GB/T 15651.3-2003 |
该书一般在1-2天内发货 |
| 标准名称： |
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 |
| 纸书定价： |
15元
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标准简介：
本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。
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| 标准号： |
GB/T 15651.3-2003 |
| 标准中文名： |
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 |
| 标准英文名： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods |
| 替代标准： |
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| 开本： |
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| 页数： |
27 |
| 字数： |
48千字 |
| ICS： |
31.260 |
| 中标分类号： |
L50 |
| 采用标准： |
IEC 60747-5-3-1997,IDT |
| 归口单位： |
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| 起草单位： |
GB |
| 发布单位： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： |
2003-11-24 |
| 实施日期： |
2004-08-01 |
| 作废日期： |
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标准个数： |
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| 作者： |
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| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 翻译： |
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| 目录： |
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| 是否有效： |
现行有效 |
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