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【YS/T 679-2008】 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法
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| 标准号： |
YS/T 679-2008 |
该书一般在1-2天内发货 |
| 标准名称： |
非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 |
| 纸书定价： |
16元
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标准简介：
本标准适用于非本征半导体样品或相同导电类型重掺衬底上沉积已知电阻率的同质外延层中的少数载流子扩散长度的测量。
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| 标准号： |
YS/T 679-2008 |
| 标准中文名： |
非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 |
| 标准英文名： |
Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors by measurement of steady-state surface photovoltage |
| 替代标准： |
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| 开本： |
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| 页数： |
15 |
| 字数： |
24千字 |
| ICS： |
ICS 29.045 |
| 中标分类号： |
H80 |
| 采用标准： |
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| 归口单位： |
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| 起草单位： |
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| 发布单位： |
国家发展和改革委员会 |
| 发布日期： |
2008-3-12 |
| 实施日期： |
2008-9-1 |
| 作废日期： |
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标准个数： |
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| 作者： |
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| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 翻译： |
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| 目录： |
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| 是否有效： |
现行有效 |
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