|
|
 |
|
| |
|
|
| |
【GB/T 17473.5-1998】 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
|
|
| |
|
|
| 标准号： |
GB/T 17473.5-1998 |
该书一般在1-2天内发货 |
| 标准名称： |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 |
| 纸书定价： |
8元
|
| |
|
|
| |
|
|
|
| |
|
标准简介：
本标准规定了厚膜微电子技术用贵金属浆料粘度的测试方法。本标准适用于各种贵金属浆料粘度的测定。非贵金属浆料亦可参照使用。
|
|
| |
|
|
|
| |
| 标准号： |
GB/T 17473.5-1998 |
| 标准中文名： |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定 |
| 标准英文名： |
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of viscosity |
| 替代标准： |
|
| 开本： |
|
| 页数： |
5 |
| 字数： |
5千字 |
| ICS： |
77.040.01 |
| 中标分类号： |
H22 |
| 采用标准： |
ISO 3219-1993,NEQ%ASTM D2169-1986,NEQ |
| 归口单位： |
|
| 起草单位： |
GB |
| 发布单位： |
国家质量技术监督局 |
| 发布日期： |
1998-8-19 |
| 实施日期： |
1999-3-1 |
| 作废日期： |
|
标准个数： |
|
| 作者： |
|
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 翻译： |
|
| 目录： |
|
| 是否有效： |
现行有效 |
|
立即订购 |
|
|
|
|
|
|
|
|
