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【SY/T 6414-1999】 全岩光片显微组分测定方法
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| 标准号： |
SY/T 6414-1999 |
该书一般在1-2天内发货 |
| 标准名称： |
全岩光片显微组分测定方法 |
| 纸书定价： |
询价 |
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标准简介：
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| 标准号： |
SY/T 6414-1999 |
| 标准中文名： |
全岩光片显微组分测定方法 |
| 标准英文名： |
Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks |
| 替代标准： |
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| 开本： |
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| 页数： |
8 |
| 字数： |
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| ICS： |
75.020 |
| 中标分类号： |
E11 |
| 采用标准： |
ISO 7404/3-94,NEQ |
| 归口单位： |
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| 起草单位： |
SY |
| 发布单位： |
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| 发布日期： |
1999 |
| 实施日期： |
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| 作废日期： |
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标准个数： |
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| 作者： |
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| 出版社： |
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| 翻译： |
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| 目录： |
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| 是否有效： |
现行有效 |
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立即订购 |
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